Noncontact Monitoring of Activation and Residual Damage of...

Noncontact Monitoring of Activation and Residual Damage of Dual Implanted Silicon Using Room Temperature Photoluminescence

Yoo, Woo Sik, Jeon, Bong Seok, Kim, Sang Deok, Ishigaki, Toshikazu, Kang, Kitaek
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Volume:
4
Année:
2015
Langue:
english
Journal:
ECS Journal of Solid State Science and Technology
DOI:
10.1149/2.0191512jss
Fichier:
PDF, 996 KB
english, 2015
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