SPIE Proceedings [SPIE Integrated Optoelectronic Devices...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE Integrated...

SPIE Proceedings [SPIE Integrated Optoelectronic Devices 2004 - San Jose, CA, United States (Monday 26 January 2004)] Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VIII - Reliability of 980-nm laser diodes based on Novalux extended-cavity surface-emitting laser (NECSEL) concept

Doan, Vincent V., Lei, Chun, Choquette, Kent D., Carey, Glen P., Zhou, Hailong, Kilcoyne, Sean P., Mooradian, Aram, Jenks, Ian, Lewis, Alan, Lear, Kevin L.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
5364
Année:
2004
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.529497
Fichier:
PDF, 496 KB
english, 2004
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué