In Situ Electron Microscopy Electromechanical...

In Situ Electron Microscopy Electromechanical Characterization of a Bistable NEMS Device

Changhong Ke, Horacio D. Espinosa
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Volume:
2
Année:
2006
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1002/smll.200600271
Fichier:
PDF, 250 KB
english, 2006
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