Reliability Model for Electronic Devices under Time Varying...

Quality and Reliability Engineering International 2016 / 06 Vol. 32; Iss. 4

Reliability Model for Electronic Devices under Time Varying Voltage

Méndez González, Luis Carlos, Rodríguez Borbón, Manuel Iván, Valles-Rosales, Delia J., Del Valle, Arturo, Rodriguez, Arnoldo
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Volume:
32
Langue:
english
Journal:
Quality and Reliability Engineering International
DOI:
10.1002/qre.1867
Date:
June, 2016
Fichier:
PDF, 571 KB
english, 2016
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