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[IEEE 2008 International SoC Design Conference (ISOCC) - Busan, Korea (South) (2008.11.24-2008.11.25)] 2008 International SoC Design Conference - Parametric yield-aware sign-off flow in 65/45nm

Byung-Su Kim,, Byoung-Hyun Lee,, Hung-Bok Choi,, Sun-Ik Heo,, Jae-Rim Lee,, Yong-Cheul Kim,, Chul Rim,, Kyu-Myung Choi,
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Année:
2008
Langue:
english
DOI:
10.1109/socdc.2008.4815576
Fichier:
PDF, 215 KB
english, 2008
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