SPIE Proceedings [SPIE Measurement Technology and...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE Measurement...

SPIE Proceedings [SPIE Measurement Technology and Intelligent Instruments - Wuhan, China (Friday 29 October 1993)] Measurement Technology and Intelligent Instruments - High-precision voltage measurement based on the Josephson junction array voltage standard

Gao, Jie, Zhang, Chao-Jun, Zhong, Guo-Lin, Zhou, Yuqing, Zhang, Qi-Zhao, Zhu, Li
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
2101
Année:
1993
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.156510
Fichier:
PDF, 580 KB
english, 1993
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué