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SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference 2013 - Ryn, Poland (Tuesday 16 April 2013)] Electron Technology Conference 2013 - Dynamic method of calibration and examination piezoresistive cantilevers

Sierakowski, Andrzej, Kopiec, Daniel, Ekwińska, Magdalena, Piasecki, Tomasz, Dobrowolski, Rafał, Płuska, Mariusz, Domański, Krzysztof, Grabiec, Piotr, Gotszalk, Teodor P., Szczepanski, Pawel, Kisiel,
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Volume:
8902
Année:
2013
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.2031522
Fichier:
PDF, 822 KB
english, 2013
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