Methodology for the structural characterisation of Vx Oy...

Methodology for the structural characterisation of Vx Oy species supported on silica under reaction conditions by means of in situ O K-edge X-ray absorption spectroscopy

Michael Hävecker, Matteo Cavalleri, Rita Herbert, Rolf Follath, Axel Knop-Gericke, Christian Hess, Klaus Hermann, Robert Schlögl
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Volume:
246
Année:
2009
Langue:
english
Pages:
11
DOI:
10.1002/pssb.200945067
Fichier:
PDF, 587 KB
english, 2009
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