On the stress field near the micro-crack tip
Shouxin Li, Zhongguang Wang, S. G. Psakhie, S. Yu. Korostelev, S. I. NegruskulVolume:
139
Année:
1993
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1002/pssa.2211390106
Fichier:
PDF, 290 KB
english, 1993