Uniformity of silicon microcrystallinity in large area RF...

Uniformity of silicon microcrystallinity in large area RF capacitive reactors

Benjamin Strahm, Christoph Hollenstein, Alan A. Howling
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Volume:
16
Année:
2008
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1002/pip.857
Fichier:
PDF, 168 KB
english, 2008
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