RAMAN SCATTERING AND X-RAY DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF...

MRS Proceedings 1985 / 1 Vol. 56

RAMAN SCATTERING AND X-RAY DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF AMORPHOUS SEMICONDUCTOR MULTILAYER INTERFACES

GONZALEZ, J., ALLRED, D.D., NGUYEN, O.V., MARTIN, D., PAWLIK, D.

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Volume:

Langue:

english

Journal:

MRS Proceedings

DOI:

10.1557/proc-56-389

Date:

January, 1985

Fichier:

PDF, 341 KB

english, 1985

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