Degradation of Single-Quantum Well InGaN Green Light...

MRS Proceedings 1996 / 1 Vol. 449

Degradation of Single-Quantum Well InGaN Green Light Emitting Diodes Under High Electrical Stress

Osiński, Marek, Perlin, Piotr, Eliseev, Ptr G, Liu, Gungtan, Barton, Daniel L
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Volume:
449
Langue:
english
Journal:
MRS Proceedings
DOI:
10.1557/proc-449-1179
Date:
January, 1996
Fichier:
PDF, 1.68 MB
english, 1996
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