Performance of a Silicon-Drift Detector in 200kV TEM...

Microscopy and Microanalysis 2009 / 7 Vol. 15; Iss. S2

Performance of a Silicon-Drift Detector in 200kV TEM Environments

Allard, LF, Rozeveld, S
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Volume:
15
Langue:
english
Journal:
Microscopy and Microanalysis
DOI:
10.1017/s1431927609099061
Date:
July, 2009
Fichier:
PDF, 11.23 MB
english, 2009
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