Low-Field Electron Emission Properties from Intrinsic and...

MRS Proceedings 2000 / 1 Vol. 638

Low-Field Electron Emission Properties from Intrinsic and S-Incorporated Nanocrystalline Carbon Thin Films Grown by Hot- Filament CVD

Gupta, S., Weiner, B. R., Weiss, B. L., Morell, G., Johnson, Kenyetta, Oritz, Oscar O.
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Volume:
638
Langue:
english
Journal:
MRS Proceedings
DOI:
10.1557/proc-638-f16.2.1
Date:
January, 2000
Fichier:
PDF, 455 KB
english, 2000
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