Characterization of a commercial 65 nm CMOS technology for...

Journal of Instrumentation 2012 / 01 Vol. 7; Iss. 1

Characterization of a commercial 65 nm CMOS technology for SLHC applications

Bonacini, S, Valerio, P, Avramidou, R, Ballabriga, R, Faccio, F, Kloukinas, K, Marchioro, A
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Volume:
7
Langue:
english
Journal:
Journal of Instrumentation
DOI:
10.1088/1748-0221/7/01/p01015
Date:
January, 2012
Fichier:
PDF, 1.72 MB
english, 2012
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