Investigation of Low-Frequency Noise in Nonvolatile Memory...

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IEEE Transactions on Electron Devices 2016

Investigation of Low-Frequency Noise in Nonvolatile Memory Composed of a Gate- All-Around Junctionless Nanowire FET

Jeong, Ui-Sik, Kim, Choong-Ki, Bae, Hagyoul, Moon, Dong-Il, Bang, Tewook, Choi, Ji-Min, Hur, Jae, Choi, Yang-Kyu
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Année:
2016
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/ted.2016.2542924
Fichier:
PDF, 1.46 MB
english, 2016
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