Physical Origins and Analysis of Negative-Bias Stress...

IEEE Electron Device Letters 2014 / 03 Vol. 35; Iss. 3

Physical Origins and Analysis of Negative-Bias Stress Instability Mechanism in Polymer-Based Thin-Film Transistors

Lee, Jaewook, Jang, Jaeman, Kim, Hyeongjung, Lee, Jiyoul, Lee, Bang-Lin, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Dae Hwan, Kim, Kyung Rok
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Volume:
35
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2014.2298861
Date:
March, 2014
Fichier:
PDF, 675 KB
english, 2014
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