[IEEE 2014 IEEE 12th International Conference on Solid -State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Guilin, China (2014.10.28-2014.10.31)] 2014 12th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Investigation on random charging/discharging of single oxide trap in SiO2: An ab -initio study

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