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[IEEE 2011 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC) - Osaka (2012.01.31-2012.02.2)] 2011 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2011 IEEE International - Current stressing effect on interfacial reaction characteristics of Cu pillar/Sn-3.5Ag microbumps for 3D integration

Kwak, Byung-Hyun, Kim, Sung-Hyuk, Park, Young-Bae
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Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1109/3dic.2012.6263004
Fichier:
PDF, 152 KB
english, 2012
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