Indium Tin Oxide Film Characterization at 0.1–20...

IEEE Access 2015 Vol. 3

Indium Tin Oxide Film Characterization at 0.1–20 GHz Using Coaxial Probe Method

Alwan, Elias A., Kiourti, Asimina, Volakis, John L.
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Volume:
3
Année:
2015
Langue:
english
Journal:
IEEE Access
DOI:
10.1109/access.2015.2433062
Fichier:
PDF, 10.07 MB
english, 2015
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