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[IEEE 2006 Technology Management for the Global Future - PICMET 2006 Conference - Istanbul, Turkey (2006.07.8-2006.07.13)] 2006 Technology Management for the Global Future - PICMET 2006 Conference - An Expert Judgment Approach for Addressing Uncertainty in High Technology System Design

Chytka, Trina, Conway, Bruce, Unal, Resit
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Année:
2006
Langue:
english
DOI:
10.1109/picmet.2006.296590
Fichier:
PDF, 7.32 MB
english, 2006
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