SPIE Proceedings [SPIE International Symposium on...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE International...

SPIE Proceedings [SPIE International Symposium on Optoelectronic Technology and Application 2014 - Beijing, China (Tuesday 13 May 2014)] International Symposium on Optoelectronic Technology and Application 2014: Image Processing and Pattern Recognition - Research on the multi-criteria combination in automatic recognition of marking points

Sharma, Gaurav, Zhou, Fugen, Liu, Jennifer, An, Yan, Dong, Keyan
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
9301
Année:
2014
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.2070685
Fichier:
PDF, 1.18 MB
english, 2014
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué