Synchrotron X-ray topographic study on nature of threading...

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Journal of Crystal Growth 2015 / 12

Synchrotron X-ray topographic study on nature of threading mixed dislocations in 4H–SiC crystals grown by PVT method

Guo, Jianqiu, Yang, Yu, Wu, Fangzhen, Sumakeris, Joe, Leonard, Robert, Goue, Ouloide, Raghothamachar, Balaji, Dudley, Michael
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Langue:
english
Journal:
Journal of Crystal Growth
DOI:
10.1016/j.jcrysgro.2015.12.028
Date:
December, 2015
Fichier:
PDF, 2.15 MB
english, 2015
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