Non-destructive characterization of strontium bismuth...

Materials Science in Semiconductor Processing 2002 Vol. 5; Iss. 2-3

Non-destructive characterization of strontium bismuth tantalate films

P Petrik, N.Q Khánh, Z.E Horváth, Z Zolnai, I Bársony, T Lohner, M Fried, J Gyulai, C Schmidt, C Schneider, H Ryssel
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Volume:
5
Année:
2002
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s1369-8001(02)00095-1
Fichier:
PDF, 262 KB
english, 2002
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