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[IEEE 2015 IEEE 10th International Conference on Industrial and Information Systems (ICIIS) - Peradeniya, Sri Lanka (2015.12.18-2015.12.20)] 2015 IEEE 10th International Conference on Industrial and Information Systems (ICIIS) - A traceability management framework for artefacts in self-adaptive systems

Perera, Indika, Meedeniya, Dulani, Bandara, Madhushi
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Année:
2015
Langue:
english
DOI:
10.1109/ICIINFS.2015.7398982
Fichier:
PDF, 1.11 MB
english, 2015
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