Relaxation Effect in RRAM Arrays: Demonstration and...

IEEE Electron Device Letters 2016 / 2 Vol. 37; Iss. 2

Relaxation Effect in RRAM Arrays: Demonstration and Characteristics

Wang, Chen, Wu, Huaqiang, Gao, Bin, Dai, Lingjun, Deng, Ning, Sekar, D. C., Lu, Z., Kellam, M., Bronner, G., Qian, He
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Volume:
37
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/LED.2015.2508034
Date:
February, 2016
Fichier:
PDF, 3.44 MB
english, 2016
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