Probing Long-Range Coulomb Interactions in Nanoscale...

IEEE Electron Device Letters 2013 / 12 Vol. 34; Iss. 12

Probing Long-Range Coulomb Interactions in Nanoscale MOSFETs

Chen, Ming-Jer, Chang, Li-Ming, Wei, Sih-Yun, Chen, Wan-Li, Yeh, Ting-Hsien, Chen, Chuan-Li, Liao, Yu-Chiao
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Volume:
34
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/LED.2013.2286816
Date:
December, 2013
Fichier:
PDF, 757 KB
english, 2013
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