EELS microanalysis of polycrystalline silicon thin films...

Solar Energy Materials and Solar Cells 2000 Vol. 63; Iss. 2

EELS microanalysis of polycrystalline silicon thin films for solar cells grown at low temperatures

Michael Stöger, Michael Nelhiebel, Peter Schattschneider, Viktor Schlosser, Alexander Breymesser, Bernard Jouffrey
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Volume:
63
Année:
2000
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0927-0248(99)00172-5
Fichier:
PDF, 238 KB
english, 2000
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