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[IEEE 2014 47th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO) - Cambridge, United Kingdom (2014.12.13-2014.12.17)] 2014 47th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture - Calculating Architectural Vulnerability Factors for Spatial Multi-Bit Transient Faults

Wilkening, Mark, Sridharan, Vilas, Li, Si, Previlon, Fritz, Gurumurthi, Sudhanva, Kaeli, David R.
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Année:
2014
Langue:
english
DOI:
10.1109/MICRO.2014.15
Fichier:
PDF, 1.56 MB
english, 2014
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