Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

Structural investigations of sputter deposited thin films:...

Structural investigations of sputter deposited thin films: reflection mode EXAFS, specular and non specular X-ray scattering

Dirk Lützenkirchen-Hecht, Ronald Frahm
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Volume:
283
Année:
2000
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/s0921-4526(99)01901-8
Fichier:
PDF, 205 KB
english, 2000
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