Defect Detection from Multi-frequency Limited Data via...

Journal of Mathematical Imaging and Vision 2016 / 5 Vol. 55; Iss. 1

Defect Detection from Multi-frequency Limited Data via Topological Sensitivity

Funes, José Félix, Perales, José Manuel, Rapún, María-Luisa, Vega, José Manuel
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
55
Langue:
english
Journal:
Journal of Mathematical Imaging and Vision
DOI:
10.1007/s10851-015-0611-y
Date:
May, 2016
Fichier:
PDF, 6.06 MB
english, 2016
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué