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[IEEE 2014 IEEE International Test Conference (ITC) - Seattle, WA, USA (2014.10.20-2014.10.23)] 2014 International Test Conference - Low-distortion signal generation for ADC testing

Abe, Fumitaka, Kobayashi, Yutaro, Sawada, Kenji, Kato, Keisuke, Kobayashi, Osamu, Kobayashi, Haruo
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Année:
2014
Langue:
english
DOI:
10.1109/TEST.2014.7035304
Fichier:
PDF, 2.26 MB
english, 2014
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