XPS studies and factor analysis of PbS nanocrystal-doped...

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 1999 Vol. 104; Iss. 1-3

XPS studies and factor analysis of PbS nanocrystal-doped SiO2 thin films

R Reiche, R Thielsch, S Oswald, K Wetzig
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Volume:
104
Année:
1999
Langue:
english
Pages:
11
DOI:
10.1016/s0368-2048(98)00326-0
Fichier:
PDF, 496 KB
english, 1999
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