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[IEEE 2015 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Singapore, Singapore (2015.6.1-2015.6.4)] 2015 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Dielectric-semiconductor interface for high-k gate dielectrics for sub-16nm CMOS technology

Misra, D., Bhuyian, M. N., Ding, Y.
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Année:
2015
DOI:
10.1109/EDSSC.2015.7285058
Fichier:
PDF, 617 KB
2015
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