Structural length-scale sensitivities of reflectance...

Structural length-scale sensitivities of reflectance measurements in continuous random media under the Born approximation

Radosevich, Andrew J., Yi, Ji, Rogers, Jeremy D., Backman, Vadim
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Volume:
37
Langue:
english
Journal:
Optics Letters
DOI:
10.1364/ol.37.005220
Date:
December, 2012
Fichier:
PDF, 363 KB
english, 2012
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