Neutron Reflectometry for the Investigation of...

Defect and Diffusion Forum 2015 / 5 Vol. 363

Neutron Reflectometry for the Investigation of Self-Diffusion in Amorphous Silicon

Strauß, Florian, Geue, Thomas, Stahn, Jochen, Schmidt, Harald
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Volume:
363
Langue:
english
Journal:
Defect and Diffusion Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/DDF.363.225
Date:
May, 2015
Fichier:
PDF, 483 KB
english, 2015
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