X-Ray Investigation of the Degradation of Zn-Doped...

X-Ray Investigation of the Degradation of Zn-Doped GaInAsP/InP Heterointerface

P. A. Aleksandrov, N. E. Belova, S. A. Nazarov, A. A. Nefedov, S. S. Fanchenko, V. A. Chaplanov, D. Yu. Schumilov

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Année:

1998

Langue:

english

DOI:

10.1142/S0218625X98000542

Fichier:

PDF, 297 KB

english, 1998

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