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Energy levels of self-trapped holes in amorphous SiO2: fictive temperature dependence

R. P. Wang, K. Saito, A. J. Ikushima
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Année:
2009
Langue:
english
DOI:
10.1088/0022-3727/42/9/095418
Fichier:
PDF, 316 KB
english, 2009
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