X-ray reflectivity and topography of the solvent-treated...

X-ray reflectivity and topography of the solvent-treated P3HT:PCBM thin films

S. Khodakarimi, M. H. Hekmatshoar, F. Abbasi
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Volume:
27
Langue:
english
Journal:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
DOI:
10.1007/s10854-015-3735-3
Date:
January, 2016
Fichier:
PDF, 922 KB
english, 2016
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