High-energy ion beam analysis of ferroelectric thin films

Applied Surface Science 1997 Vol. 117-118; Iss. none

High-energy ion beam analysis of ferroelectric thin films

Michio Watamori, Shin-ichi Honda, Osamu Kubo, Isaku Kanno, Takashi Hirao, Kaoru Sasabe, Kenjiro Oura
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Volume:
117-118
Année:
1997
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/s0169-4332(97)80124-9
Fichier:
PDF, 469 KB
english, 1997
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