SIMS depth profiling of InGaAsN/InAlAs quantum wells on InP

M. Maier, D. Serries, T. Geppert, K. Köhler, H. Güllich, N. Herres

Avez-vous aimé ce livre?

Quelle est la qualité du fichier téléchargé?

Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité

Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?

Volume:

203-204

Année:

2003

Langue:

english

Pages:

DOI:

10.1016/s0169-4332(02)00762-6

Fichier:

PDF, 89 KB

english, 2003

La conversion en est effectuée

La conversion en a échoué