New evidence of dominant processing effects in standard and...

New evidence of dominant processing effects in standard and oxygenated silicon diodes after neutron irradiation

A. Candelori, R. Rando, D. Bisello, F. Campabadal, V. Cindro, L. Fonseca, A. Kaminski, A. Litovchenko, M. Lozano, C. Martı&amp, #x0301, nez, A. Moreno, J.M. Rafi, J. Santander, M. Ullán, J. Wyss
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Volume:
512
Année:
2003
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0168-9002(03)01876-x
Fichier:
PDF, 176 KB
english, 2003
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