The Noise Reduction Effect of the Amplified Metal Oxide...

Japanese Journal of Applied Physics 1995 / 7 Vol. 34; Iss. Part 1, No

The Noise Reduction Effect of the Amplified Metal Oxide Semiconductor Imager

Andoh, Fumihiko, RyozoTaniwaki,, Taketoshi, Kazuhisa, ShuichiAraki,
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Volume:
34
Langue:
english
Journal:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/JJAP.34.3570
Date:
July, 1995
Fichier:
PDF, 2.16 MB
english, 1995
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