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[ACM Press the conference - Munich, Germany (1999..-..)] Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - DATE '99 - Chip-level verification for parasitic coupling effects in deep-submicron digital designs

Ye, Lun, Chang, Foong-Charn, Feldmann, Peter, Ns, Nagaraj, Chadha, Rakesh, Cano, Frank
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Année:
1999
Langue:
english
DOI:
10.1145/307418.307583
Fichier:
PDF, 121 KB
english, 1999
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