Nanometrologie in zweieinhalb Dimensionen: Entwicklung...

Nanometrologie in zweieinhalb Dimensionen: Entwicklung einer Nanometer-Koordinaten-Messmaschine mit rasterkraftmikroskopischer Antastung (Nanometrology in Two and a Half Dimensions: Development of a Nanometer Coordinate Measuring Machine with Atomic Force Scanning)

Rothe, Hendrik, Gruhlke, Martin, Petersen, Ralph
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
73
Langue:
german
Journal:
tm – Technisches Messen
DOI:
10.1524/teme.2006.73.9.511
Date:
January, 2006
Fichier:
PDF, 486 KB
german, 2006
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué