TEM investigation of defect structure in GaAlN/GaN...

Vacuum 2003 Vol. 71; Iss. 1-2

TEM investigation of defect structure in GaAlN/GaN heterostructures

Zs. Makkai, B. Pécz, M.A. di Forte-Poisson
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Volume:
71
Année:
2003
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/s0042-207x(02)00731-5
Fichier:
PDF, 577 KB
english, 2003
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