On the existence of a nanometric multilayered structure in...

Thin Solid Films 2004 Vol. 446; Iss. 1

On the existence of a nanometric multilayered structure in Al2O3/Al thin films

C. Le Paven-Thivet, S. Fusil, P. Aubert, C. Malibert, A. Zozime, Ph. Houdy
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Volume:
446
Année:
2004
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0040-6090(03)01389-0
Fichier:
PDF, 638 KB
english, 2004
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