X-Ray diffraction studies of p-CdS:Cu thin films

Thin Solid Films 2002 Vol. 408; Iss. 1-2

X-Ray diffraction studies of p-CdS:Cu thin films

Yasube Kashiwaba, Tadakazu Komatsu, Mitsutaka Nishikawa, Yuichiro Ishikawa, Koji Segawa, Yasuomi Hayasi
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Volume:
408
Année:
2002
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/s0040-6090(02)00131-1
Fichier:
PDF, 211 KB
english, 2002
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