Detection of bottom depletion layer and its influence on...

Thin Solid Films 2001 Vol. 383; Iss. 1-2

Detection of bottom depletion layer and its influence on surface photovoltage measurement in μc-Si:H

V. Švrček, I. Pelant, J. Stuchlı&amp, #x0301, k, A. Fejfar, J. Kočka
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Volume:
383
Année:
2001
Langue:
english
Pages:
3
DOI:
10.1016/s0040-6090(00)01601-1
Fichier:
PDF, 90 KB
english, 2001
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