Enhanced electrical performance for conductive atomic force...

Review of Scientific Instruments 2005 Vol. 76; Iss. 1

Enhanced electrical performance for conductive atomic force microscopy

Blasco, Xavier, Nafria, Montserrat, Aymerich, Xavier
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Volume:
76
Année:
2005
Langue:
english
Journal:
Review of Scientific Instruments
DOI:
10.1063/1.1832579
Fichier:
PDF, 84 KB
english, 2005
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